扫描微电极系统（美国AE公司）

　　Scanning microelectrode system

　　技术参数：由SIET-SVET组成，SVET可监测金属表面腐蚀过程的电流密度，具有nV级电位梯度测量精度；SIET可测试微区pH值的分布，也可以监测微区与腐蚀相关联的Cl-、Na+和其他金属阳离子的浓度分布，空间分辨率15 ？m。

　　应用领域：腐蚀机理研究