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专利库
专利名称:
测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法
专利类别:
发明
申请号:
申请日期:
20131029
专利号:
201310525910.7？
第一发明人:
李阁平; 张利峰; 李明远; 王练; 彭胜; 吴松全; 高博; 顾恒飞; 庞丽侠
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
20160817
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
状态:
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