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专利名称:
一种奥氏体管内壁腐蚀层厚度的涡流检测方法
专利类别:
发明
申请号:
202011131869.1
申请日期:
20201021
专利号:
202011131869.1
第一发明人:
蔡桂喜；张双楠；李宏伟；张博；李建奎；张宝俊；杨亮；刘芳
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
20220412
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
状态:
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