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Tacnai F30透射电子显微镜
2015-05-21  |          【 】【打印】【关闭

 

  制造商美国FEI

  安装时间2003年11月

  技术指标

    配有EDAX能谱、Gatan GIF系统
    加速电压: 200KV 300KV (可选)
    能量分辨率:0.8eV
    TEM点分辨率2 Å
    TEM信息分辨率:1.4 Å
    STEM分辨率:1.7 Å

  功能

    用于二维和三维材料微观尺度下的晶体结构表征和化学成分分析等:
    可实现TEM成像、STEM成像、能量过滤TEM像(EFTEM)、衍射和电子能量损失谱(EELS)分析;
    STEM模式下可实现HAADFADFBF成像;
    三维重构;
    有针对磁性材料研究的不受场约束的 Lorentz 模式成像,分辨率可达2 nm
    配备相应原位样品杆进行微观尺度的In-Situ TEM分析。

  放置地点

    李薰楼148室

中国科学院金属研究所

材料界面及缺陷的电子显微学研究团队

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