制造商：美国FEI

　　安装时间：2012.11

　　技术指标：

　　　　配有单色器/X-FEG、图像矫正器、电子束矫正器、EDAX能谱、Gatan 965 GIF系统
　　　　加速电压：60 KV 200KV 300KV （可选）
　　　　能量分辨率：0.2-0.3eV
　　　　TEM点分辨率：0.8 Å
　　　　TEM信息分辨率：0.7 Å
　　　　STEM分辨率：0.8 Å

　　功能：

　　　　用于二维和三维材料在微观尺度下晶体结构表征和化学成分分析等：
　　　　可实现TEM成像、STEM成像、能量过滤TEM像（EFTEM）、衍射和电子能量损失谱（EELS）分析；
　　　　在STEM模式下可实现HAADF、ADF、BF成像；
　　　　三维重构；
　　　　有针对磁性材料研究的不受场约束的 Lorentz 模式成像，分辨率可达2 nm。

　　放置地点：李薰楼157室