薄膜与微尺度材料及力学性能课题组-中国科学院金属研究所
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2016-11-16  |          【 】【打印】【关闭

(1) ZL 2006 1 0047538.3(发明专利):薄膜材料电热力耦合作用下性能测试系统及测试方法;张广平,张滨,于庆源

(2) ZL 2008 1 0228254.3(发明专利):柔性电子基板上薄膜材料可靠性原位测试系统及方法;张广平,朱晓飞,张滨

(3) ZL 2008 1 0011238.9(发明专利):薄膜材料动态弯曲疲劳性能测试系统及测试方法;张广平,朱晓飞,张滨

(4) ZL 2011 1 0302754.9:一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性测试方法;张广平,徐进,张滨,宋竹满

薄膜与微尺度材料及力学性能课题组-中国科学院金属研究所

薄膜与微尺度材料及力学性能研究团队

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